发明名称 一种计量型高精度X射线显微镜扫描样品台
摘要 本实用新型公开了一种计量型高精度X射线显微镜扫描样品台,扫描转台(2)安装在固定底座(1)上,扫描转台(2)提供被扫描样品所需的旋转扫描运动,扫描转台(2)上部固定安装三维定位平台(6),固定底座(1)外侧安装传感器安装座(3),传感器安装座(3)上分别安装径向跳动误差测量传感器(4)与轴向跳动误差和摆动误差测量传感器组(5),样品架(8)固定于y方向平台之上;可实现样品扫描台旋转过程中转轴的径向误差、轴向误差与转轴摆动误差的实时测量,所测量的误差结果可以用来对样品运动进行误差修正,解决了扫描样品台由于精度误差导致三维图像重构失真的难题。
申请公布号 CN202631458U 申请公布日期 2012.12.26
申请号 CN201220287181.7 申请日期 2012.06.18
申请人 东营市三英精密工程研究中心 发明人 须颖;董友
分类号 G01N23/04(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种计量型高精度X射线显微镜扫描样品台,其特征在于,扫描转台(2)安装在固定底座(1)上,扫描转台(2)提供被扫描样品所需的旋转扫描运动,扫描转台(2)上部固定安装三维定位平台(6),固定底座(1)外侧安装传感器安装座(3),传感器安装座(3)上分别安装径向跳动误差测量传感器(4)与轴向跳动误差和摆动误差测量传感器组(5),样品架(8)固定于y方向平台之上;轴向跳动误差和摆动误差测量传感器组(5)包括两个传感器,所述两个传感器沿固定底座(1)的对称中心对称分布。
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