发明名称 特征物质的检测系统及方法
摘要 本发明涉及特征物质的检测系统及方法。该方法包括:步骤1,对被测样品进行质谱分析得到每个样品点的质谱数据,并确定被测样品的感兴趣区域;步骤2,对于同一个m/z所表征的物质,分别计算感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的总离子强度、感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的平均强度和/或感兴趣区域内该m/z所表征的物质的空间聚集度,依据预置的规则判定该m/z所表征的物质是否为特征物质。本发明使研究人员准确、精确分析检测出样品中感兴趣区域内能够检测到哪些是样品的特有物质、哪些是背景噪声,所有特征物质离子的相对含量以及其在样品内的空间分布情况。
申请公布号 CN101975818B 申请公布日期 2012.12.26
申请号 CN201010164194.0 申请日期 2010.04.29
申请人 中国计量科学研究院 发明人 熊行创;方向;张新荣;江游;黄泽健;何明佳;张玉奎
分类号 G01N27/62(2006.01)I;G01N21/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G06K9/00(2006.01)I 主分类号 G01N27/62(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 梁挥;谢鑫
主权项 特征物质的检测方法,其特征在于,包括:步骤1,对被测样品进行质谱分析得到每个样品点的质谱数据,并确定被测样品的感兴趣区域;步骤2,对于同一个m/z所表征的物质,分别计算感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的总离子强度、感兴趣区域内和感兴趣区域外所有样品点的平均强度和/或感兴趣区域内该m/z所表征的物质的空间聚集度,依据预置的规则判定该m/z所表征的物质是否为特征物质;感兴趣区域内总离子强度为感兴趣区域内所有存在该m/z所表征的物质的样品点对应的质谱峰信号强度之和;感兴趣区域外总离子强度为感兴趣区域外所有存在该m/z所表征的物质的样品点对应的质谱峰信号强度之和;感兴趣区域内平均强度表示感兴趣区域内总离子强度除以感兴趣区域内所有存在该m/z所表征的物质的样品点的个数;感兴趣区域外平均强度表示感兴趣区域外总离子强度除以感兴趣区域外所有存在该m/z所表征的物质的样品点的个数;其中,该预置的规则为感兴趣区域内平均强度大于或等于感兴趣区域外的平均离子强度的2倍,并且该m/z所表征的物质在感兴趣区域内存在质谱峰的样品点数不少于该m/z所表征的物质感兴趣区域外存在质谱峰的样品点数,则该m/z所表征的物质为特征物质;该m/z所表征的物质在感兴趣区域内存在质谱峰的样品点的空间聚合度优于在感兴趣区域外存在质谱峰的样品点的空间聚合度,则该m/z所表征的物质为特征物质;或者感兴趣区域内平均强度大于或等于感兴趣区域外的平均离子强度的2倍,并且该m/z所表征的物质在感兴趣区域内存在质谱峰的样品点数不少于该m/z所表征的物质感兴趣区域外存在质谱峰的样品点数,同时该m/z所表征的物质在感兴趣区域内存在质谱峰的样品点的空间聚合度优于在感兴趣区域外存在质谱峰的样品点的空间聚合度,则该m/z所表征的物质为特征物质。
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