| 发明名称 | 质量分析方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种质量分析方法，其对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。根据在各离子排出时积蓄在离子阱内的离子量，对质量谱的质量轴进行修正。 | ||
| 申请公布号 | CN102842479A | 申请公布日期 | 2012.12.26 |
| 申请号 | CN201210209081.7 | 申请日期 | 2012.06.20 |
| 申请人 | 株式会社日立高新技术 | 发明人 | 杉山益之;桥本雄一郎;熊野峻;川口洋平;诸熊秀俊 |
| 分类号 | H01J49/00(2006.01)I;H01J49/42(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I | 主分类号 | H01J49/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 曾贤伟;曹鑫 |
| 主权项 | 一种质量分析方法，其特征在于，具有：通过离子源对试样进行离子化的工序；将离子积蓄到离子阱中的工序；以及从上述离子阱中根据质量选择性地排出离子并用检测器检测，取得质量谱的工序，根据各离子排出时积蓄在上述离子阱内的离子量，对上述质量谱的质量轴进行修正。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||