发明名称 |
深孔垂直度激光测量系统及测量方法 |
摘要 |
一种深孔垂直度激光测量系统,包含手持垂直支座;激光发射器,其设置在手持垂直支座的内部,且其前端发射头露出在手持垂直支座外;激光发射器的前端发射头插入被测深孔的一端内,使手持垂直支座与被测基准面相接触;过渡套,其设置在被测深孔的另一端内;激光位置检测装置,其设置在过渡套内;该激光位置检测装置包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源,激光接收器接收由激光发射器发射出的准直激光,并将入射激光与该激光接收器物理中心的位置偏差坐标值显示在显示器上。本发明还提供一种深孔垂直度激光测量方法。本发明能便捷高效精准地测量被测深孔相对于基准面的垂直度,且被测深孔的深度将不受测量系统尺寸的限制。 |
申请公布号 |
CN102840842A |
申请公布日期 |
2012.12.26 |
申请号 |
CN201210326379.6 |
申请日期 |
2012.09.06 |
申请人 |
上海电气核电设备有限公司 |
发明人 |
刘来魁;谈文龙;王飞;王威 |
分类号 |
G01B11/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/26(2006.01)I |
代理机构 |
上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 |
代理人 |
张静洁;徐雯琼 |
主权项 |
一种深孔垂直度激光测量系统,其特征在于,包含:手持垂直支座(1);激光发射器(2),其发射准直激光,该准直激光的轴线与激光发射器(2)的外圆同轴;所述激光发射器(2)设置在所述手持垂直支座(1)的内部,且该激光发射器(2)的前端发射头(21)露出在手持垂直支座(1)外;所述激光发射器(2)的前端发射头(21)插入被测深孔(6)的一端内,使所述手持垂直支座(1)与被测基准面(7)相接触;过渡套(4),其设置在被测深孔(6)的另一端内;激光位置检测装置(3),其设置在所述过渡套(4)内;该激光位置检测装置(3)包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源,所述激光接收器接收由激光发射器(2)发射出的准直激光,并将入射激光与该激光接收器物理中心的位置偏差坐标值显示在显示器上。 |
地址 |
201306 上海市浦东新区临港重型产业装备区层林路77号 |