| 摘要 |
<p>본 발명은 광열 효과 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로 측정 대상체를 향하여 탐침 빛을 조사하는 제 1 광원; 측정 대상체를 향하여 일정한 주기로 여기 빛을 조사하는 제 2 광원; 상기 측정 대상체의 조사된 영역의 영상을 측정하는 카메라; 및 상기 카메라를 통해 측정된 영상신호를 분석하는 분석장치를 포함하는 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 광열 효과 검출 장치 및 방법은 측정 대상체에 접근이 어렵거나 측정 범위가 광범위한 경우에도 광열 효과에 의한 신호를 검출하여 측정 대상체의 내부 결함, 열적 성질 또는 농도 변화를 분석할 수 있다.</p> |
