发明名称 平面显示面板及其主动元件阵列基板与点亮测试方法
摘要 一种平面显示面板及其主动元件阵列基板与点亮测试方法,此主动元件阵列基板包括多个第一画素单元、多个第二画素单元、第一点亮测试线路、第二点亮测试线路以及多组讯号导线群。位于周边电路区内的第一点亮测试线路与第二点亮测试线路分别电性连接至位于显示区内的第一画素单元与第二画素单元,且位于周边电路区内的两相邻之讯号导线群系分别电性连接于第一画素单元与第二画素单元其中之一。若有任何第二/第一画素单元在透过第一/第二点亮测试线路输入测试讯号至第一/第二画素单元时被点亮,则表示至少两相邻之讯号导线群相互短路。
申请公布号 TWI380255 申请公布日期 2012.12.21
申请号 TW097139975 申请日期 2008.10.17
申请人 元太科技工业股份有限公司 发明人 江怡萱;苏威纶
分类号 G09F9/30 主分类号 G09F9/30
代理机构 代理人 郭晓文 台北市中正区思源街18号A栋2楼206室
主权项 一种主动元件阵列基板,具有一显示区与一周边电路区,该主动元件阵列基板包括:多个第一画素单元与多个第二画素单元,阵列地排列于该显示区内,其中各该第一画素单元与各该第二画素单元分别包括一资料配线与一扫描配线;一第一点亮测试线路,配置于该周边电路区内,并电性连接至该些第一画素单元;以及一第二点亮测试线路,配置于该周边电路区内,并电性连接至该些第二画素单元;以及多组讯号导线群,配置于该周边电路区内,其中两相邻之该些讯号导线群系分别电性连接于该第一画素单元与该第二画素单元其中之一的该资料配线或该扫描配线。如申请专利范围第1项所述之主动元件阵列基板,其中各该讯号导线群包括一讯号导线,且该些讯号导线位于同一膜层。如申请专利范围第1项所述之主动元件阵列基板,其中各该讯号导线群包括多条分别位于不同膜层的讯号导线。如申请专利范围第1项所述之主动元件阵列基板,更包括:一第三点亮测试线路,配置于该周边电路区内;以及多个接垫,其中该些接垫之一端系电性连接至该第三点亮测试线路,而该些接垫的另一端系电性连接至该些讯号导线群。如申请专利范围第4项所述之主动元件阵列基板,其中该些接垫为驱动晶片接垫。一种主动元件阵列基板,具有一显示区与一周边电路区,该主动元件阵列基板包括:多个画素单元,阵列地排列于该显示区内;多条讯号导线,配置于该周边电路区内,并电性连接至该些画素单元;一点亮测试线路,配置于该周边电路区内;以及多个接垫,配置于该周边电路内,其中各该接垫系分别电性连接于该些讯号导线其中之一与该点亮测试线路之间。如申请专利范围第6项所述之主动元件阵列基板,其中该些接垫为驱动晶片接垫。一种平面显示面板,包括:一主动元件阵列基板,具有一显示区与一周边电路区,该主动元件阵列基板包括:多个第一画素单元与多个第二画素单元,阵列地排列于该显示区内,其中各该第一画素单元与各该第二画素单元分别包括一资料配线与一扫描配线;一第一点亮测试线路,配置于该周边电路区内,并电性连接至该些第一画素单元;一第二点亮测试线路,配置于该周边电路区内,并电性连接至该些第二画素单元;多组讯号导线群,配置于该周边电路区内,其中两相邻之该些讯号导线群系分别电性连接于该第一画素单元与该第二画素单元其中之一的该资料配线或该扫描配线;一透光层,配置于该主动元件阵列基板上方;以及一显示层,配置于该透光基板与该主动元件阵列基板之间。如申请专利范围第8项所述之平面显示面板,其中各该讯号导线群包括一讯号导线,且该些讯号导线位于同一膜层。如申请专利范围第8项所述之平面显示面板,其中各该讯号导线群包括多条分别位于不同膜层的讯号导线。如申请专利范围第8项所述之平面显示面板,其中该主动元件阵列基板更包括:一第三点亮测试线路,配置于该周边电路区内;以及多个接垫,其中该些接垫之一端系电性连接至该第三点亮测试线路,而该些接垫的另一端系电性连接至该些讯号导线群。如申请专利范围第8项所述之平面显示面板,其中该透光层为透光基板或透光保护膜。如申请专利范围第8项所述之平面显示面板,其中该显示层为液晶层、电泳层、电湿润层或有机电致发光层。一种平面显示面板,包括:一主动元件阵列基板,包括:多个画素单元,阵列地排列于该显示区内;多条讯号导线,配置于该周边电路区内,并电性连接至该些画素单元;一点亮测试线路,配置于该周边电路区内;以及多个接垫,配置于该周边电路内,其中各该接垫系分别电性连接于该些讯号导线其中之一与该点亮测试线路之间;一透光层,配置于该主动元件阵列基板上方;以及一显示层,配置于该透光基板与该主动元件阵列基板之间。如申请专利范围第14项所述之平面显示面板,其中该透光层为透光基板或透光保护膜。如申请专利范围第14项所述之平面显示面板,其中该显示层为液晶层、电泳层、电湿润层或有机电致发光层。一种点亮测试方法,适于测试申请专利范围第8项所述之平面显示面板,该点亮测试方法包括下列步骤:分次从该第一点亮测试线路与该第二点亮测试线路输入一测试讯号,以交替点亮该些第一画素单元及该些第二画素单元,其中:当从该第一点亮测试线路输入该测试讯号时,判断该些第二画素单元是否被点亮;以及当从该第二点亮测试线路输入该测试讯号时,判断该些第一画素单元是否被点亮。一种点亮测试方法,适于测试申请专利范围第11项所述之平面显示面板,该点亮测试方法包括下列步骤:从该第三点亮测试线路输入一测试讯号;以及判断该些第一画素单元与该些第二画素单元是否被点亮。一种点亮测试方法,适于测试申请专利范围第14项所述之平面显示面板,该点亮测试方法包括下列步骤:从该点亮测试线路输入一测试讯号;以及判断该些画素单元是否被点亮。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行一路3号