横穿薄膜之热分配系统、及使用可重置加热器之方法

摘要

本发明揭示用于控制一聚合膜之一横穿薄膜厚度大小之系统及方法。本发明亦揭示一种可提供一可选热分配予一热分配区中之膜之横穿薄膜热分配系统。该横穿薄膜热分配系统包括至少一选择性可重置加热元件。

主权项

一种膜处理装置，包含：一定向器，其用于使聚合膜变形，该定向器具有一热分配区；一横穿薄膜热分配系统，其可提供一可选热分配予该定向器中之该膜，该横穿薄膜热分配系统包括一选择性可重置加热元件；一厚度规，其用于量测该膜之一横穿薄膜厚度大小，该厚度规定位于自该横穿薄膜热分配系统之下游；及一反馈机构，其回应于所量测之该横穿薄膜厚度大小，而选择该热分配。如请求项1之膜处理装置，其中该定向器为一长度定向器。如请求项1之膜处理装置，其中该定向器为一拉幅机。如请求项1之膜处理装置，其中该热分配区为一变形区。如请求项4之膜处理装置，其中该热分配区为一拉伸区。如请求项1之膜处理装置，其中该热分配区为一预热区。如请求项2之膜处理装置，进一步包含一拉幅机。如请求项1之膜处理装置，其中该反馈机构包括一映射演算法(mapping algorithm)。如请求项1之膜处理装置，其中该加热元件为复数个加热元件之其中之一者。如请求项1之膜处理装置，其中该加热元件被伸长。如请求项1之膜处理装置，其中该加热元件可枢转。一种控制一聚合膜之一横穿薄膜厚度大小之方法，包含以下步骤：在一定向器中使该膜变形，该定向器具有一横穿薄膜热分配系统；在自该横穿薄膜热分配系统之下游的一位置处，量测该膜之一横穿薄膜厚度大小；及藉由选择性地重置该横穿薄膜热分配系统中之一加热元件，来调节该横穿薄膜热分配系统，以回应所量测之该横穿薄膜厚度大小。如请求项12之方法，其中该加热元件为复数个加热元件之一者。如请求项12之方法，其中该定向器为一长度定向器。如请求项12之方法，其中该定向器为一拉幅机。如请求项12之方法，其中该调节步骤包括：将该膜之所量测之该横穿薄膜厚度大小映射至该横穿薄膜热分配系统之该位置。如请求项16之方法，其中该调节步骤包括：将该加热元件选择性地定位于一对应于该膜上之一厚点的横穿薄膜位置处。如请求项12或17之方法，其中该调节步骤包括：调节传递至该加热元件之功率。如请求项12之方法，其中该加热元件被伸长。如请求项19之方法，其中该调节步骤包括：相对于一膜路径之一行进方向而选择性地旋转该伸长加热元件。如请求项19之方法，其中该加热元件系与一膜路径之一行进方向大体上对准。如请求项12之方法，其中该加热元件包括一杆加热器。如请求项12之方法，其中该加热元件包括复数个点热源。如请求项12之方法，进一步包含卷绕该膜之步骤。如请求项12之方法，其中该聚合膜包含一多层膜。如请求项15之方法，在该拉幅机中拉伸该膜之该步骤之后，进一步包含在一长度定向器中拉伸该膜之一步骤。如请求项12之方法，进一步包含调节至少一模具螺栓之一步骤。如请求项12之方法，其中该量测步骤中之该横穿薄膜厚度大小包括一实体厚度大小。如请求项12之方法，其中该量测步骤中之该横穿薄膜厚度大小包括一光学厚度大小。