| 主权项 |
一种侦测电致发光(EL)显示器中缺陷的电致发光(EL)发光体的方法，包括：a)提供具有复数个子像素的该电致发光(EL)显示器，每个子像素包括一具有第一电极和第二电极的电致发光发光体、一具有第一电极、连接至该电致发光发光体之该第一电极的第二电极和闸极电极的驱动电晶体、以及一具有连接至该驱动电晶体之该第二电极的第一电极、第二电极和闸极电极的读出电晶体；b)提供一第一电压源，与该复数个子像素的每一个中该驱动电晶体的该第一电极相关联；c)提供一第二电压源，连接至该复数个子像素的每一个中该电致发光发光体的该第二电极；d)提供一电流源，与该读出电晶体的该第二电极相关联；e)选择一电致发光子像素及其对应的驱动电晶体、读出电晶体和电致发光发光体；f)提供一电压测量电路，与该选择的读出电晶体的该第二电极相关联；g)关闭通过该选择的驱动电晶体的电流；h)利用该电流源提供一选择的测试电流通过该电致发光发光体；i)利用该电压测量电路测量该选择的读出电晶体的该第二电极上的电压以提供一代表该选择的电致发光发光体的特性的对应状态信号；j)对该复数个电致发光子像素中剩余的每一个电致发光子像素重复步骤e至i；k)选择一电致发光子像素；l)为该选择的电致发光子像素选择一子像素相邻区，其中该子像素相邻区包括至少两个相邻该选择的电致发光子像素的子像素；m)比较该选择的电致发光子像素的该状态信号与该选择的子像素相邻区中每个子像素的各自状态信号以判定该选择的电致发光发光体是否有缺陷；以及n)对该复数个电致发光子像素中剩余的每一个电致发光子像素重复步骤k至m以侦测该电致发光显示器中其他缺陷的电致发光发光体。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，步骤b包括提供第一开关用于将该第一电压源选择性地连接至该复数个子像素中的每一个中该驱动电晶体的该第一电极，以及其中步骤g包括打开该第一开关以关闭通过该选择的驱动电晶体的电流。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，将该复数个子像素划分为一个或多个子像素组，并且其中步骤e包括为该一个或多个子像素组的每一个提供各自的第二开关用于将该电流源选择性地连接至该各个子像素组中该复数个子像素的每一个的该读出电晶体的该第二电极。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，每个子像素相邻区包括一该选择的电致发光子像素之上的子像素、一该选择的电致发光子像素之下的子像素、一该选择的电致发光子像素左边的子像素、以及一该选择的电致发光子像素右边的子像素。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，该对比步骤包括计算该相邻区的该等子像素的该各个状态信号的第一平均值，且判定该选择的电致发光子像素的该状态信号和该第一平均值的差异是否超过该第一平均值的一选择的第一百分比。依据申请专利范围第1项所述的方法，进一步包括提供用于储存关于哪一个电致发光发光体是缺陷的资讯的一缺陷图，并且其中该子像素相邻区中的每个子像素在该缺陷图中该各个储存的资讯表示该子像素为无缺陷的。依据申请专利范围第1项所述之方法，其中，该选择的测试电流大于一选择的阈值电流。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，该电致发光显示器为一有机发光二极体(OLED)显示器，每个电致发光子像素为一有机发光二极体子像素，且每个电致发光发光体为一有机发光二极体发光体。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，每个驱动电晶体为一非晶矽驱动电晶体。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，该电压测量电路包括一类比数位转换器。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，每个电致发光子像素进一步包括一具有连接至该驱动电晶体的该闸极电极的第二电极的选择电晶体，并且其中每个选择电晶体的该闸极电极连接至该对应的读出电晶体的该闸极电极。依据申请专利范围第1项所述的方法，其中，在第一时间周期期间对一选择数的电致发光子像素同时执行步骤g和h，并且其中在该第一时间周期期间对该选择数的电致发光子像素中的每一个依序执行步骤i。依据申请专利范围第12项所述的方法，进一步包括以列和行排列该电致发光子像素，并且提供对应该列的复数个选择线以及对应该行的复数个读出线，其中每个电致发光子像素包括一选择电晶体，该选择电晶体具有连接至该驱动电晶体的该闸极电极的第二电极、第一电极和闸极电极，每个选择线连接至一个或多个对应的选择电晶体的该闸极电极，且每个读出线连接至一个或多个对应的读出电晶体的该第二电极。依据申请专利范围第13项所述的方法，进一步包括使用一连接至该复数个读出线的多工器，用于依序读出预定数的有机发光二极体子像素的该等状态信号。 |
