| 主权项 |
一种掉落测试装置，主要包含：一固定架，系设有一滑座，并且该滑座系具有一水平滑轨；一掉落角度设定治具，系设置于该滑座上并连接有一可调整升降之试样架，该试样架系提供一第一基准面，而该治具系提供一第二基准面，该试样架之升降移动使得该第一基准面移动在一第一设定位置与一第一退离位置之间，当该治具在该水平滑轨之导引下作水平向移动，该第二基准面系移动在一第二设定位置与一第二退离位置之间；以及一夹具，当该夹具夹设一待测试物件时，在第一设定位置之该第一基准面系可供贴触该待测试物件之一第一表面，在第二设定位置之该第二基准面系可供贴触该待测试物件之一第二表面。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，其中该滑座之一侧缘系设有一第一触止块，该掉落角度设定治具之一侧缘系连接设有一第二触止块，当该第二触止块接触该第一触止块，该第二基准面系移动至该第二退离位置。如申请专利范围第2项所述之掉落测试装置，其中该第二触止块系设有一紧迫固定件，用以固定该治具与该滑座的相对位置。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，其中该治具系具有一调整杆与一弹性元件，该弹性元件系提供该试样架移动朝向该第一设定位置之弹力，该调整杆系限制该试样架朝向该第一设定位置之移动程度。如申请专利范围第1或4项所述之掉落测试装置，其中该试样架之两侧各连接有一滑件，该治具之两侧各设有一供该滑件垂直滑移之垂直滑轨。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，其中该固定架之底部系设有复数个调整脚，用以调整该水平滑轨的水平面。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，其中该待测试物件系为长条状之记忆体模组。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，其中该第一基准面与该第二基准面系互为垂直。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，另包含有一夹持座，用以结合该夹具。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，其中该夹具系具有倒L形外形，以提供一第一夹面与一第二夹面，其中该第一夹面之夹合间隙小于该第二夹面之夹合间隙并且该第一夹面相对远离该第一基准面。如申请专利范围第1项所述之掉落测试装置，其中在第一设定位置之该第一基准面与在第二设定位置之该第二基准面之间系形成有一夹缝。一种申请专利范围第1项所述之掉落测试装置之使用方法，依序包含以下步骤：调整该试样架与该治具，以使该第一基准面移动至该第一设定位置，该第二基准面系移动至该第二设定位置；放置一待测试物件于该治具，该待测试物件之一第一表面系贴触于该第一基准面，该待测试物件之一第二表面系贴触于该第二基准面；以该夹具固定该待测试物件；下降该试样架，以使该第一基准面移动至第一退离位置而不与该待测试物件贴触，但该待测试物件仍与该治具之该第二基准面贴触；横移该治具，以使该第二基准面系移动至第二退离位置而不与该待测试物件贴触；以及释放该待测试物件。如申请专利范围第12项所述之掉落测试装置之使用方法，其中在上述该试样架之下降步骤以及上述该治具之横移步骤中，该待测试物件系固定不动并且不与该试样架及该治具产生磨擦。 |
