发明名称 | 灵敏度的测试方法及装置 | ||
摘要 | 本发明公开了一种灵敏度的测试方法及装置,该方法包括:向待测设备输入第一信号,测试得到待测设备响应于第一信号的载噪比;获取第一信号的调制解码的解调门限;根据第一信号的信号强度、载噪比和解调门限确定待测设备的灵敏度。本发明解决了相关技术中测试待测设备的灵敏度时,不能兼顾测试的准确性和效率的问题,达到了提高测试效率和精度的效果。 | ||
申请公布号 | CN102833011A | 申请公布日期 | 2012.12.19 |
申请号 | CN201110159201.2 | 申请日期 | 2011.06.14 |
申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 陈侃浩 |
分类号 | H04B17/00(2006.01)I | 主分类号 | H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;梁丽超 |
主权项 | 一种灵敏度的测试方法,其特征在于,包括:向待测设备输入第一信号,测试得到所述待测设备响应于所述第一信号的载噪比;获取所述第一信号的调制解码的解调门限;根据所述第一信号的信号强度、所述载噪比和所述解调门限确定所述待测设备的灵敏度。 | ||
地址 | 518057 广东省深圳市南山区科技南路55号 |