一种测试存储器件的方法

摘要

本发明公开了一种测试存储器件方法，具体为：(1)对存储器件的存储区域进行划分，将存储器件划分为多个扇区，并再将每个扇区划分为多个区域；(2)对每个扇区的上述划分的多个区域进行数据填充；(3)读取上述填充到存储器件各扇区的数据，并判断所述存储器件是否正常，即判断读取出来的第一标识数据以及后续区域存储的数据与写入的对应数据是否一致，如果不一致，则判定该存储器件存在问题。

主权项

一种测试存储器件的方法，用于检测存放在存储器件中的数据是否可靠，该方法包括如下步骤：（1）对存储器件的存储区进行划分，将存储器件划分为多个扇区，再将每个扇区划分为多个区域；（2）对每个扇区划分的多个区域进行数据填充；（2.1）在每个扇区的前N个区域填充一定格式的数据，其中N为正整数；（2.2）对每个扇区所述前N个区域后续的多个区域依次填充一定格式的数据，其中，所述后续的多个区域中，第一个区域的数据由前N个区域的数据经预定的算法计算得到，后面每个区域所填充的数据由其前一个区域的数据通过该算法计算得到；（3）读取上述填充到存储器件各扇区的数据，并进而判断所述存储器件是否正常，即判断读取出来的前N个区域以及后续区域存储的数据与对应的填充数据是否一致，如果不一致，则判定该存储器件存在问题。