发明名称 | 一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法,涉及可编程逻辑器件技术,用于分析评价FPGA测试配置的完备性。本发明方法结合FPGA的结构特点,首先建立FPGA的配置词典;然后采用模板化的方法分析测试配置,计算测试配置对配置词典的覆盖率;最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性。通过本发明提出的方法,无需故障仿真就能对FPGA的测试配置进行快速的分析评价:分析测试配置所有可测和不可测的FPGA资源,评价测试配置的完备性,从而可以指导FPGA测试配置的改进,提高FPGA测试配置的开发效率。 | ||
申请公布号 | CN102830345A | 申请公布日期 | 2012.12.19 |
申请号 | CN201110161031.1 | 申请日期 | 2011.06.15 |
申请人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明人 | 杨海钢;周发标;秋小强;王飞 |
分类号 | G01R31/3185(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 周国城 |
主权项 | 一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法,用于现场可编程门阵列测试配置,其特征在于:包含以下步骤:1)建立现场可编程门阵列基本可编程单元的配置词典;2)根据测试配置测试的资源,建立测试配置的分析模板;3)建立对应于分析模板的配置词典;4)采用模板化的方法并行对测试配置进行分析处理;5)根据分析处理的结果,对测试配置的完备性进行评价,并分析该组测试配置所有可测和不可测的资源。 | ||
地址 | 100190 北京市海淀区北四环西路19号 |