发明名称 |
一种TFT-LCD阵列基板及其测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种TFT-LCD阵列基板,包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域,所述显示区内设置有栅线和数据线,所述外围区域内设置有:第一测试短棒,其上设置有多条测试线,用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号;第二测试短棒,其上设置有栅线测试线,用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号;在所述至少一条第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连接处,或在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置。本发明还公开了相应的测试方法。实施本发明的实施例,可以实现对TFT-LCD阵列基板进行两次测试。 |
申请公布号 |
CN102831852A |
申请公布日期 |
2012.12.19 |
申请号 |
CN201210335918.2 |
申请日期 |
2012.09.12 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
文松贤;蔡荣茂;廖学士;庄益壮;邓明锋 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I;G09G3/36(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1362(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 |
代理人 |
潘中毅;熊贤卿 |
主权项 |
一种TFT‑LCD阵列基板,包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域,所述显示区内设置有栅线和数据线,其特征在于,所述外围区域内设置有:第一测试短棒,其上设置有多条测试线,用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号;第二测试短棒,其上设置有栅线测试线,用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号;在所述至少一条第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连接处,或在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号 |