发明名称 |
一种制备GaN薄膜材料的方法 |
摘要 |
制备GaN薄膜材料的方法,在GaN/蓝宝石复合衬底上蒸镀金属镍(Ni)薄膜,退火得到纳米Ni颗粒,然后采用电感耦合等离子体刻蚀(ICP)方式蚀刻未被Ni覆盖的GaN/蓝宝石复合衬底上的GaN,形成纳米结构的GaN/蓝宝石复合衬底。在此纳米结构复合衬底上进行GaN的氢化物气相外延(HVPE)生长得到低应力高质量的GaN薄膜或者自支撑GaN衬底材料。本发明获得低应力高质量GaN薄膜材料。 |
申请公布号 |
CN102828240A |
申请公布日期 |
2012.12.19 |
申请号 |
CN201210316953.X |
申请日期 |
2012.08.31 |
申请人 |
南京大学 |
发明人 |
修向前;华雪梅;林增钦;张士英;谢自力;张荣;韩平;陆海;顾书林;施毅;郑有炓 |
分类号 |
C30B25/20(2006.01)I;C30B25/16(2006.01)I |
主分类号 |
C30B25/20(2006.01)I |
代理机构 |
南京天翼专利代理有限责任公司 32112 |
代理人 |
汤志武 |
主权项 |
一种制备GaN薄膜材料的方法,其特征是在GaN/蓝宝石复合衬底上蒸镀金属镍(Ni)薄膜,退火得到纳米Ni颗粒,然后采用电感耦合等离子体刻蚀(ICP)方式蚀刻未被Ni覆盖的GaN/蓝宝石复合衬底上的GaN,形成纳米结构的GaN/蓝宝石复合衬底;在此纳米结构复合衬底上进行GaN的氢化物气相外延(HVPE)生长得到低应力高质量的GaN薄膜或者自支撑GaN衬底材料。 |
地址 |
210093 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号 |