使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计

摘要

一种使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计(1)，其中测量信号包括第一频率扫描和第二频率扫描，并且混频器(25)被布置为使测量信号与回波信号混频以基于第一频率扫描形成第一IF信号，并且基于第二频率扫描形成第二IF信号。处理电路(11)采样电路适于对第一IF信号和第二IF信号采样，以形成包括来自每个料箱信号的样本的组合样本向量，并且基于组合样本向量确定距离。通过组合来自两次(或更多次)不同扫描的样本，样本数目和带宽均可以增加，因而维持范围L。然而，由于样本获得自两次分立的扫描，因此各次扫描的扫描时间不需要增加，并且可以维持平均功耗。

主权项

使用微波确定到料箱中的产品表面的距离的料位计，其包括：微波源，被布置为生成包括第一频率扫描和第二频率扫描的测量信号；信号传播设备，与所述微波源连接并且适于允许将所述测量信号传播到所述料箱中，并且接收从所述表面反射的回波信号；功率存储部，用于为所述微波源供电，所述功率存储部在扫描之间充电；混频器，与所述微波源和所述信号传播设备连接，并且被布置为使所述测量信号与所述回波信号混频以基于所述第一频率扫描形成第一中频IF信号，并且基于所述第二频率扫描形成第二中频IF信号；处理电路，被连接为从所述混频器接收所述料箱信号并且适于对所述第一IF信号和所述第二IF信号采样，以形成包括来自每个料箱信号的样本的组合样本向量，并且基于所述组合样本向量确定所述距离。