发明名称 |
光学测量系统及其装置 |
摘要 |
本发明公开了一种光学测量系统,用于对一待测物的光学特性进行测量,光学测量系统包含一待测物、一光检测模块、一导光模块以及一分析模块。本发明在光学测量系统中利用了该导光模块来从该待测物发出的光线中,接收轴向光线进行光学特性分析。故此,除可准确地测量待测物所发出光线的光强度以外,也可同时取得待测物的轴向光线的光学特性。 |
申请公布号 |
CN102829859A |
申请公布日期 |
2012.12.19 |
申请号 |
CN201110169191.0 |
申请日期 |
2011.06.17 |
申请人 |
致茂电子股份有限公司 |
发明人 |
郑勗廷;曾一士;王遵义 |
分类号 |
G01J1/00(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01J1/00(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
赵根喜;冯志云 |
主权项 |
一种光学测量系统,包含:一待测物,用于接受一电能以产生一第一光线以及一第二光线;一光检测模块,用于接收该第二光线以测量该第二光线的强度;一导光模块,设置于该待测物以及该光检测模块之间,该导光模块用于传输并改变该第一光线的行进方向,该导光模块包含:一光输入端,形成于该导光模块的末端,用于反射并改变该第一光线的行进方向;一光输出端,形成于该导光模块相对于该光输入端的另一末端,用于改变该第一光线的行进方向并输出该第一光线;以及一导引部,形成于该光输入端以及该光输出端之间,该导引部用于自该光输入端传输该第一光线予该光输出端;以及一分析模块,用于自该导光模块接收该第一光线以测量该第一光线的光学特性。 |
地址 |
中国台湾桃园县 |