发明名称 |
半导体激光测距机光学系统 |
摘要 |
本实用新型公开了半导体激光测距机光学系统,具有单筒望远镜、发射物镜和接收物镜,其中:所述发射物镜由第一双胶合物镜组成,第一双胶合物镜表面具有可见光全部截掉的膜系,在中心波长800nm-1200nm镀宽带膜系;所述接收物镜由第二双胶合物镜组成;所述单筒望远镜、发射物镜和接收物镜的光轴相互平行。与现有技术相比,结构紧凑,三轴平行性好,放大倍率适宜目视观察,薄膜光学与接受器件匹配好。 |
申请公布号 |
CN202614217U |
申请公布日期 |
2012.12.19 |
申请号 |
CN201120465752.7 |
申请日期 |
2011.11.22 |
申请人 |
河南中光学集团有限公司 |
发明人 |
杨耀富;王利;朱振军;曹春青;卢金英 |
分类号 |
G01C3/00(2006.01)I;G02B27/30(2006.01)I;G02B23/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01C3/00(2006.01)I |
代理机构 |
郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙) 41117 |
代理人 |
庄振乾 |
主权项 |
一种半导体激光测距机光学系统,具有单筒望远镜、发射物镜和接收物镜,其特征在于:所述发射物镜由第一双胶合物镜组成,第一双胶合物镜表面具有可见光全部截掉的膜系,在中心波长800nm‑1200nm镀宽带膜系;所述接收物镜由第二双胶合物镜组成;所述单筒望远镜、发射物镜和接收物镜的光轴相互平行。 |
地址 |
473000 河南省南阳市工业南路508号 |