发明名称 一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置
摘要 本发明提供一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置,该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管。当样品仓中温度降低时,样品的折射率会随着改变,偏向角δ也会有微小的变化Δδ,偏向角变化量可由平行光管测量出,从而得到低温下材料的折射率改变。本发明基于最常用的垂直入射法的,原理简单,操作方便,所测得样品棱镜可以是红外材料也可以是可见光波段的材料,应用范围广,用平行光管代替了一般测量用的编码器,平行光管测角度的微小变化准确度高,能很好的应用于测量低温下材料射率变化引起的偏向角的微小变化,降低了装置成本,提高了偏向角测量精度。
申请公布号 CN102830090A 申请公布日期 2012.12.19
申请号 CN201210305222.5 申请日期 2012.08.24
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 倪磊;杨月英;廖胜;任栖峰
分类号 G01N21/41(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人 杨学明;李新华
主权项 一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置,其特征在于,该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管;其中,所述的分光镜表面经镀膜处理,使测量时所用波段的光束50%透射,50%反射,所述分光镜置于准直光源系统和低温真空仓之间的光路上,用于反射经低温真空仓后出射的平行光,使该平行光顺利进入瞄准系统;所述瞄准系统包括离轴聚焦抛物面反射镜和阵列探测器,所述离轴聚焦抛物面反射镜用于瞄准焦点位置,所述阵列探测器用来探测聚焦光斑;所述的低温真空仓包括与该低温真空仓相连所述的电控旋转台,所述电控旋转台用于调整双面旋转反射镜的角度变化;所述样品仓位于低温真空仓内部,其还包括与该样品仓相连的绝热支撑,用于隔绝该样品仓与所述低温真空仓的热传导,实现样品仓的制冷;所述样品仓用于放置样品棱镜;所述双面旋转反射镜正面抛光并镀反射膜,背面同时抛光并镀反射膜;所述旋转双面旋转反射镜由连接到所述的低温真空仓上的电控旋转台驱动进行微小角度的转动;所述旋转双面旋转反射镜一方面用于垂直反射由样品仓出射的光束,使光束按原路反射回去;另一方面用于平行光管的瞄准和选择该双面旋转反射镜的角度改变的测量;所述平行光管在所述的低温真空仓的一个光路出口处,通过读出该平行光管的玻罗板上的焦点的移动来间接测量双面旋转反射镜旋转角度的微小转动。
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