发明名称 |
一种Al-Sb-Se纳米相变薄膜材料及其制备方法和应用 |
摘要 |
本发明涉及微电子技术领域的材料,具体涉及一种Al-Sb-Se纳米相变薄膜材料。本发明提供一种Al-Sb-Se纳米相变薄膜材料,所述Al-Sb-Se纳米相变薄膜材料是由铝、锑、硒三种元素组成。本发明的Al-Sb-Se纳米薄膜材料具有如下优点:首先,Al-Sb-Se纳米相变薄膜材料具有较快的晶化速度,能够大大提高PCRAM的存储速度;其次,Al-Sb-Se纳米相变薄膜材料具有较高的激活能,从而能够极大的改善PCRAM的热稳定性;再次,Al-Sb-Se相变材料中不含有有毒、易挥发的Te元素,因而相比传统的Ge2Sb2Te5材料,对人体和环境的影响较小。 |
申请公布号 |
CN102832341A |
申请公布日期 |
2012.12.19 |
申请号 |
CN201210337309.0 |
申请日期 |
2012.09.12 |
申请人 |
同济大学 |
发明人 |
翟继卫;胡益丰;孙明成 |
分类号 |
H01L45/00(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I |
主分类号 |
H01L45/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
许亦琳;余明伟 |
主权项 |
一种Al‑Sb‑Se纳米相变薄膜材料,所述Al‑Sb‑Se纳米相变薄膜材料是由铝、锑、硒三种元素组成。 |
地址 |
200092 上海市杨浦区四平路1239号 |