发明名称 一种氧化硅介电材料用化学机械抛光液
摘要 本发明关于一种化学机械抛光液,尤其涉及一种氧化硅介电材料用化学机械抛光液,可有效应用于半导体中氧化硅介电材料。所述氧化硅介电材料用化学机械抛光液,含有氧化物抛光颗粒、盐组份、鳌合剂、pH调节剂及水性介质;其中以抛光液总重量为基准,上述组分的重量百分比为:氧化物抛光颗粒0.2-50wt%;盐组份,其通式为MXn,M为金属元素,X为卤素0.1-5wt%,n=1、2或3;螯合剂0.05-5wt%;余量为pH调节剂和水性介质。本发明所提供的化学机械抛光液,通过盐组份及螯合剂的独特组合,在适当的pH的条件下,大大提高了二氧化硅薄膜去除速率。
申请公布号 CN102827549A 申请公布日期 2012.12.19
申请号 CN201210324122.7 申请日期 2012.09.04
申请人 上海新安纳电子科技有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 王良咏;刘卫丽;宋志棠
分类号 C09G1/02(2006.01)I;H01L21/3105(2006.01)I 主分类号 C09G1/02(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 许亦琳;余明伟
主权项 一种氧化硅介电材料用化学机械抛光液,含有氧化物抛光颗粒、盐组份、鳌合剂、pH调节剂及水性介质;其中以抛光液总重量为基准,上述组分的重量百分比为:氧化物抛光颗粒0.2‑50wt%;盐组份,其通式为MXn,M为金属元素,X为卤素0.1‑5wt%,n=1、2或3;螯合剂0.05‑5wt%;余量为pH调节剂和水性介质。
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