发明名称 | 半导体集成电路 | ||
摘要 | 本发明提供一种半导体集成电路,作为差动输入晶体管的P沟道型MOS晶体管(M1、M2)为了降低噪声水平,具有薄的栅极氧化膜。保护这些P沟道型MOS晶体管(M1、M2)不被过电压损坏的保护电路,构成为包括P沟道型MOS晶体管(M3、M4)。P沟道型MOS晶体管(M3)是保护P沟道型MOS晶体管(M1)不被过电压损坏的第1保护晶体管,串联连接在P沟道型MOS晶体管(M1)的漏极侧。P沟道型MOS晶体管(M4)是保护P沟道型MOS晶体管(M2)不被过电压损坏的第2保护晶体管,串联连接在P沟道型MOS晶体管(M2)的漏极侧。由此,可有效地降低噪声水平。 | ||
申请公布号 | CN102832925A | 申请公布日期 | 2012.12.19 |
申请号 | CN201210189534.4 | 申请日期 | 2012.06.08 |
申请人 | 半导体元件工业有限责任公司 | 发明人 | 大西章申;日隈裕洋;小林和幸;村濑谦悟 |
分类号 | H03K19/094(2006.01)I | 主分类号 | H03K19/094(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 樊建中 |
主权项 | 一种半导体集成电路,其具备:电路,其构成为包括具有厚的栅极氧化膜的晶体管、和具有薄的栅极氧化膜的晶体管,在噪声对电路动作的影响较大的电路部分中使用所述具有薄的栅极氧化膜的晶体管;和保护电路,其设置在所述电路内,保护所述具有薄的栅极氧化膜的晶体管不被过电压损坏,向所述电路供给与所述具有厚的栅极氧化膜的晶体管对应的电源电压。 | ||
地址 | 美国亚利桑那 |