发明名称 Procedimiento para la parametrización automática de sistemas de medida
摘要 Procedimiento para la parametrización automática de sistemas de medida para realizar la medición de objetostransportados mediante una instalación de transporte (11), en particular sistemas de medición de volúmenes,caracterizado porque mediante por lo menos un escáner láser (13, 15) se capta una imagen por lo menosbidimensional, comprendiendo puntos de imagen (17) de un objeto patrón (19) situado dentro del campo demedición del sistema de medida, conocido en cuanto a sus dimensiones para el sistema de medida, que presentauna superficie plana y donde a partir de la imagen y de las dimensiones conocidas del objeto patrón (19) sedeterminan los parámetros del sistema necesarios para la medición de los objetos.
申请公布号 ES2393109(T3) 申请公布日期 2012.12.18
申请号 ES20060020135T 申请日期 2006.09.26
申请人 SICK AG 发明人 KALTENBACH, THOMAS
分类号 G01B11/04;B07C3/14;G01B11/25 主分类号 G01B11/04
代理机构 代理人
主权项
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