TEST CIRCUIT AND METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT

摘要

반도체 집적회로의 테스트 회로는 관통 비아, 전압 드라이빙부 및 판정부를 포함한다. 상기 관통 비아는 입력전압을 수신한다. 상기 전압 드라이빙부는 상기 관통 비아와 연결되어 상기 입력전압을 수신하고, 테스트 제어신호에 응답하여 상기 입력전압의 레벨을 변화시켜 테스트 전압을 생성한다. 상기 판정부는 상기 입력전압 및 상기 테스트 전압을 비교하여 결과신호를 출력한다.