APPARATO PER LA RILEVAZIONE DI DIFETTI DI ELEMENTI DA ESAMINARE, IN PARTICOLARE COPERCHI METALLICI, IMPIANTO DI RILEVAZIONE DI DIFETTI PROVVISTO DI TALE APPARATO E METODO DI FUNZIONAMENTO RELATIVO.

摘要

An apparatus for detecting defects of elements to be subjected to examination, particularly metallic lids, with means for lighting an element to be subjected to examination, an image acquisition unit, and a unit for processing images acquired by said image acquisition unit is described.