DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING MATERIAL PROPERTIES OF A SUBSTRATE SAMPLE IN THE TERAHERTZ FREQUENCY SPECTRUM

摘要

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Bestimmung von Material-Eigenschaften einer beschichteten oder unbeschichteten Substrat- Probe im elektromagnetischen Tera-Hertz-Frequenzspektrum, insbesondere von einer mit wenigstens einer Schicht beschichteten, bevorzugt faserverstärkten Substrat-Probe, dadurch gekennzeichnet, dass die Substrat-Probe mit wenigstens zwei sich kollinear ausbreitenden von wenigstens zwei Tera-Hertz-Emittern erzeugten Tera-Hertz-Lichtpulsen unterschiedlicher Polarisation, insbesondere mit gleichem Strahlquerschnitt beleuchtet wird und die von der Substrat-Probe reflektierten und/oder durch die Substrat-Probe transmittierten Tera-Herz-Lichtpulse hinsichtlich der Intensität und/oder elektrischen Feldstärke in wenigstens zwei, bevorzugt drei verschiedenen Polarisationsrichtungen zeitaufgelöst vermessen werden.