| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft eine Testanordnung (1) zum durch elektrische Berührungskontaktierung mittels einer Prüfkarte (2) erfolgenden elektrischen Prüfen von vereinzelten Schaltungsträgern (3) insbesondere der Halbleitertechnik, mit mindestens einer Aufnahmevorrichtung (4) zum positionsreproduzierbaren Halten von mindestens einem Schaltungsträger (3), wobei die Aufnahmevorrichtung (4) ein Halteglied (11) mit Halteelementen (27) zum Halten des Schaltungsträgers (3) aufweist, Mittel (13) zum zumindest bereichsweise erfolgenden elastischen Verformen und zur wenigstens teilweisen Aufhebung der Verformung des eine Eigenelastizität aufweisenden Halteglieds (11) vorgesehen sind, derart, dass sich aufgrund der Verformung die lichte Weite zwischen den Halteelementen (27) soweit vergrößert, dass der Schaltungsträger (3) zwischen die Halteelemente (27) einsetzbar ist und sich bei der teilweisen Aufhebung der Verformung an den Schaltungsträger (3) anlegen und diesen fixieren, und Befestigungsmittel (45) zum positionsreproduzierbaren Befestigen der Aufnahmevorrichtung (4) an der Prüfkarte (2) oder einem der Prüfkarte (2) zugeordneten Bauteil (7) vorhanden sind.</p> |
