| 摘要 |
<p>본 발명은 외부의 가변 광원을 이용하여 내부의 내부 가변 광원으로부터 출력되는 광원의 파장에 대한 검정 및 교정을 할 수 있으며, 전기식 센서 측정장치를 더 포함함으로써 동일한 측정 대상에 대하여 상기 전기식 센서와 상기 광섬유 센서를 동시에 적용하고 2개의 서로 다른 센싱 계측 기법의 센서로부터 측정된 결과를 비교할 수 있는 복합형 계측기를 개시(introduce)한다. 상기 복합형 계측기는, 광센서 측정 및 탐촉자의 검정/교정부, 전기식 센서 측정부, 외부 가변 광원부, 검정 및 교정 연결부, 프로세서, 외부 장비 연결부, 시간정보 동기 연결부 및 프로세서부를 구비한다.</p> |
