发明名称 |
检测透明物体中的光学缺陷 |
摘要 |
本发明涉及检测透明物质中光学缺陷的方法,其包括如下步骤:提供具有多个图像像素的透明物质的数字图像,检测至少一个候选缺陷。候选缺陷可通过如下操作检测,即确定每个图像像素的灰度强度并跨邻近图像像素对计算强度梯度。为每个图像像素分配梯度值,包括与图像像素关联的强度梯度绝对值的最大值。可构建梯度图像,其包括分配给相应图像像素的梯度值。如果图像像素的梯度值超过梯度阈值,则该图像像素可识别为候选像素。候选像素可包括光学缺陷。 |
申请公布号 |
CN102822867A |
申请公布日期 |
2012.12.12 |
申请号 |
CN201180016072.X |
申请日期 |
2011.03.01 |
申请人 |
波音公司 |
发明人 |
R·L·布考特;M·P·格里森;M·M·托马斯;M·S·狄克孙;R·普雷斯;W·D·斯玛特 |
分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
赵蓉民 |
主权项 |
一种检测透明物质中光学缺陷的方法,其包括如下步骤:提供所述透明物质的数字图像,所述数字图像包括多个图像像素,每个都具有灰度强度;通过执行如下操作检测至少一个候选缺陷:确定每个所述图像像素的灰度强度;跨邻近图像像素对计算强度梯度;为每个图像像素分配梯度值,其包括与所述图像像素关联的强度梯度的最大绝对值;构建梯度图像,包括分配给所述图像像素中相应像素的梯度值;以及识别梯度值超过梯度阈值的图像像素作为候选像素,所述候选像素包括所述候选缺陷。 |
地址 |
美国伊利诺伊州 |