发明名称 | 多特征多级别的红外与高光谱图像的高精度配准方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种红外图像与高光谱图像的配准方法,包括对红外图像进行降采样,生成低分辨率红外图像,并根据高光谱图像生成显著波段图像;在低分辨率红外图像和显著波段图像上提取SIFT特征、并在低分辨率红外图像和显著波段图像的多个尺度上提取角点特征和面点特征;对低分辨率红外图像和显著波段图像提取的SIFT特征进行匹配,得到匹配的SIFT特征对,并利用匹配的SIFT特征对和GDBICP方法获得变换模型;在原始红外图像和显著波段图像上,利用初始变换模型据提供的几何约束,进行基于图像块对的多尺度角点特征、面点特征的提取,并根据初始变换模型、多尺度角点特征和多尺度面点特征确定更精确的变换模型;根据变换模型对高光谱图像进行变换,得到变换后的高光谱图像。 | ||
申请公布号 | CN102819839A | 申请公布日期 | 2012.12.12 |
申请号 | CN201210251537.6 | 申请日期 | 2012.07.19 |
申请人 | 北京市遥感信息研究所;中国科学院自动化研究所 | 发明人 | 张秀玲;霍春雷;江碧涛;潘春洪;李京龙 |
分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 宋焰琴 |
主权项 | 一种红外图像与高光谱图像的配准方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、对红外图像进行降采样,生成低分辨率红外图像,并根据高光谱图像生成显著波段图像;步骤S2、在所述低分辨率红外图像和显著波段图像上提取SIFT特征、并在所述低分辨率红外图像和显著波段图像的多个尺度上提取角点特征和面点特征;步骤S3、对低分辨率红外图像和显著波段图像提取的SIFT特征进行匹配,得到匹配的SIFT特征对,并利用匹配的SIFT特征对和GDBICP方法获得变换模型,所谓变换模型是指红外图像和高光谱图像之间的一种几何变换关系;步骤S4、在所述原始红外图像和显著波段图像上,利用所述初始变换模型据提供的几何约束,进行基于图像块对的多尺度角点特征、面点特征的提取,并根据初始变换模型、多尺度角点特征和多尺度面点特征确定更精确的变换模型;步骤S5、根据所述变换模型对高光谱图像进行变换,得到变换后的高光谱图像。 | ||
地址 | 100192 北京市海淀区清河小营东路2号院 |