| 发明名称 | 用于分析具有旋转部件的机器的状态的设备 | ||
| 摘要 | 本公开涉及用于分析具有旋转部件的机器的状态的设备。一种操作用于分析机器的状态的设备的方法，所述机器具有以转速（fROT）旋转的部件，所述方法包括以下步骤：接收依据源自所述部件的旋转的机械振动的第一数字信号（SRED，SMD，SENV）；分析所述第一数字信号（SRED，SMD，SENV），从而在有限时间周期（Pm）中检测振幅峰值（AP），所述有限时间周期相应于所述可旋转部件的特定转数（R）；所述特定转数（R）相应于所监控的可旋转部件的大于一转的转数；定义多个（NR）振幅范围；将所检测到的振幅峰值（AP）分类到相应的振幅范围中，从而反映所述多个振幅范围内的检测到的振幅峰值（AP）的发生率（N）；依据所分类的振幅峰值（AP）和所述特定转数（R）而估计代表性的振幅峰值（APR）。 | ||
| 申请公布号 | CN102822644A | 申请公布日期 | 2012.12.12 |
| 申请号 | CN201180006321.7 | 申请日期 | 2011.01.13 |
| 申请人 | S.P.M.仪器公司 | 发明人 | L-O·荷丁 |
| 分类号 | G01H1/00(2006.01)I;G01M13/02(2006.01)I;G01M13/04(2006.01)I | 主分类号 | G01H1/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 李镇江 |
| 主权项 | 一种操作用于分析机器的状态的设备的方法，所述机器具有以转速（fROT）旋转的部件，所述方法包括以下步骤：接收依据源自所述部件的旋转的机械振动的第一数字信号（SMD,SR,SF）;分析所述第一数字信号，从而在有限时间周期（TPm）中检测振幅峰值（AP），所述有限时间周期相应于所述可旋转部件的特定转数（R）；所述特定转数（R）相应于所监控的可旋转部件的大于一转的转数；定义多个（NR）振幅范围；将所检测到的振幅峰值（AP）分类到相应的振幅范围中，从而反映所述多个振幅范围内的检测到的振幅峰值（AP）的发生率（N）；依据所分类的振幅峰值（AP）和所述特定转数（R）而估计代表性的振幅峰值（APR）。 | ||
| 地址 | 瑞典斯特兰奈斯 | ||