发明名称 太阳电池硅衬底的质量检验方法
摘要 太阳电池硅衬底的质量检验方法,涉及电池片质量检验技术,在电性能数据和EL测试图像记录完成后,将电池片浸泡在盐酸和硝酸的水溶液中,去掉两面银栅和背面的铝背场,再向溶液中加入适量的氢氟酸,以去掉正面的氮化硅镀膜层和P-N结层,得到硅衬底;用P-N型测试仪测量硅衬底两面导电类型至均无N型区部分;将硅衬底用水清洗、风干,用四探针电阻率测试仪测量表面电阻,用少子寿命测试仪测量其少子寿命,即可得出太阳电池硅衬底质量,结合电性能数据和EL测试图像就可确定太阳电池的质量。本发明有益效果是:所需测量工具为太阳能行业常见工具,简单易用,测量简单方便,对太阳电池硅衬底的质量判断准确,为太阳电池的生产及检验提供了更为可靠的依据。
申请公布号 CN102818980A 申请公布日期 2012.12.12
申请号 CN201210285745.8 申请日期 2012.08.13
申请人 安阳市凤凰光伏科技有限公司 发明人 曹洋;石坚;孙志刚;刘茂华;韩子强
分类号 G01R31/26(2006.01)I;G01N27/00(2006.01)I;G01N27/04(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 安阳市智浩专利代理事务所 41116 代理人 王好勤
主权项 太阳电池硅衬底的质量检验方法,其特征在于依次进行以下步骤:a将成品太阳电池电性能数据及EL测试数据详细记录;b根据环境条件的不同配制盐酸硝酸混合溶液,盐酸与硝酸的比例为10~1:1~20;其中,盐酸含量:分析纯36%~38%,硝酸含量:分析纯68%~70%;c取1~2片太阳电池放入配好的盐酸硝酸混合溶液中,观察去除太阳电池两面的银栅线和太阳电池背面的铝背场;d当观察太阳电池两面的银栅线脱落,并且太阳电池背面的铝背场反应去除干净后,向溶液中加入氢氟酸,氢氟酸体积为盐酸硝酸混合溶液的1%~20%;氢氟酸的浓度小于或等于20%;e观察正面的氮化硅薄膜去除情况,当氮化硅去除后每隔1~3分钟将太阳电池取出,用纯水洗净,测量其两面的导电类型,如果为N型则将太阳电池放回溶液继续反应;f当测量太阳电池两面的导电类型均为P型后,此时就得到了太阳电池的硅衬底,将太阳电池取出,用纯水洗净、烘干;g将得到的太阳电池硅衬底用四探针测量其电阻,用少子寿命测试仪测量其少子寿命,并将其与太阳电池的电性能数据与EL测试图像进行比对;正常硅太阳电池硅衬底的电阻率应该在1欧姆厘米至欧姆厘米之间,多晶硅片衬底的平均少子寿命大于1微秒为正常,单晶硅片衬底的平均少子寿命大于1.4微秒为正常,并可根据对应数据做详细分析。
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