发明名称 不同线密度的一维硅纳米线的制备方法
摘要 本发明公开了一种不同线密度的一维硅纳米线的制备方法,包括以下步骤:a、硅片的预处理;b、金属催化刻蚀法制备一维硅纳米线阵列,分以下两步:第一步,沉积银纳米颗粒:将经预处理的硅片于HF-AgNO3的混合水溶液中浸渍20~40s,其中HF的浓度为0.1~0.2mol/L,AgNO3的浓度为0.008~0.012mol/L;第二部,金属辅助刻蚀:将第一步得到硅片浸入HF-H2O2的混合刻蚀液中,并在室温下刻蚀20~40min;c、后处理。制得的一维硅纳米线阵列在紫外漫反射,光电流特性和光催化反应过程中光电性能有明显的提高,且可以调整工艺参数从而控制硅纳米线的形貌和密度,制备方法简单,成本低廉无污染。
申请公布号 CN102815701A 申请公布日期 2012.12.12
申请号 CN201210325381.1 申请日期 2012.09.05
申请人 南京航空航天大学 发明人 姬广斌;刘有松;汪俊逸;梁渲祺;张兴淼
分类号 C01B33/021(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I 主分类号 C01B33/021(2006.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 柏尚春
主权项 一种不同线密度的一维硅纳米线的制备方法,其特征在于包括以下步骤:a、硅片的预处理:硅片经清洗后,浸入氢氟酸溶液中去除表面的氧化层,并用氢气吹干;b、金属催化刻蚀法制备一维硅纳米线阵列,分以下两步:第一步,沉积银纳米颗粒:将经预处理的硅片于HF‑AgNO3的混合水溶液中浸渍20~40s,其中HF的浓度为0.1~0.2mol/L,AgNO3的浓度为0.008~0.012mol/L;第二部,金属辅助刻蚀:将第一步得到硅片浸入HF‑H2O2的混合刻蚀液中,并在室温下刻蚀20~40min;c、后处理:将刻蚀完的硅片置于HNO3溶液中,去除沉积的Ag粒子,然后用去离子水清洗,最后在60℃下干燥。
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