发明名称 光掩模单元及其制造方法
摘要 本发明提供了一种适宜于使用EUV曝光技术,在感光膜上形成32nm或其以下的微小图案的光刻用光掩模,以提供能确实地防止光掩模的平坦度发生恶化的光掩模单元为目的。本发明的光掩模单元1为:防尘薄膜6、在其一个表面粘贴有防尘薄膜6的侧部近旁区域的防尘薄膜组件框架7、光掩模2、其一个表面固定有光掩模2及防尘薄膜组件框架7的台子3,防尘薄膜组件框架7在比固定有光掩模2的台子3的范围还要靠外的侧被固定于台子3上。
申请公布号 CN102822744A 申请公布日期 2012.12.12
申请号 CN201180017361.1 申请日期 2011.03.10
申请人 信越化学工业株式会社 发明人 秋山昌次;久保田芳宏
分类号 G03F1/62(2012.01)I;G03F1/64(2012.01)I;H01L21/027(2006.01)I 主分类号 G03F1/62(2012.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇
主权项 一种光掩模单元,包括:防尘薄膜;防尘薄膜组件框架,其形成框架状,其一个端面上粘贴所述防尘薄膜的侧部近旁区域;光掩模;台子,在其一个表面上固定有所述光掩模及所述防尘薄膜组件框架,其特征在于所述防尘薄膜组件框架,在比固定所述光掩模的台子的范围还要靠外侧被固定于所述台子上。
地址 日本东京都