发明名称 用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法
摘要 本发明公开了一种用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法,其先用按合金配比称取高纯金属和/或基准试剂,再将高纯金属和/或基准试剂用熔剂溶解成溶液,然后定量转移至铂黄坩埚中,与硼酸锂、氧化剂和脱模剂混合后熔融,冷却即得铁合金校准样品玻璃熔片。本方法采用有相似元素组成和含量范围的基准或标准物质复配待测铁合金的校准样品,解决了待测铁合金无标准样品或标准样品不足的问题。采用本方法得到的校准样品玻璃熔片用于X射线荧光光谱分析,结果准确可靠,拓展了X射线荧光光谱分析法的应用范围。
申请公布号 CN102818722A 申请公布日期 2012.12.12
申请号 CN201210300348.3 申请日期 2012.08.22
申请人 河北钢铁股份有限公司邯郸分公司 发明人 王彬果;李兰群;赵靖;徐静;商英;白淑霞;张建中;闫文喜;李帆;马永昌
分类号 G01N1/28(2006.01)I;G01N23/223(2006.01)I 主分类号 G01N1/28(2006.01)I
代理机构 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 代理人 曹淑敏
主权项 一种用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法,其包括,其特征在于:先用按合金配比称取高纯金属和/或基准试剂,再将高纯金属和/或基准试剂用熔剂溶解成溶液,然后定量转移至铂黄坩埚中,与硼酸锂、氧化剂和脱模剂混合后熔融,冷却即得铁合金校准样品玻璃熔片。
地址 056015 河北省邯郸市复兴路232号