发明名称 |
一种光学谐振频率差精确测量装置及其方法 |
摘要 |
本发明公布了一种光学谐振频率差精确测量装置,包括激光器、信号发生器、强度调制器、分光束器、一对谐振器、光强度信号转换装置和位相解调器;所述激光器产生的激光根据信号发生器的信号经强度调制器强度调制后,再经分光束器产生一对光学边带信号,分别进入一对谐振器,所述谐振器的反射光经光强度信号转换装置转换成强度信号,再由位相解调器解调。一种光学谐振频率差精确测量方法,采用边带调制技术来精确测量和比较谐振器的谐振频率,边带由强度调制器产生,每一组边带都有三个具有固定位相和强度关系的成分,两组边带分别用于探测不同谐振器的谐振频率,并用位相解调器解调。本发明同时实现对谐振器的谐振频率差的高精度和大量程测量。 |
申请公布号 |
CN102818695A |
申请公布日期 |
2012.12.12 |
申请号 |
CN201210274650.6 |
申请日期 |
2012.08.03 |
申请人 |
无锡联河光子技术有限公司 |
发明人 |
刘庆文;何祖源 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 32200 |
代理人 |
楼高潮 |
主权项 |
一种光学谐振频率差精确测量装置,其特征在于:包括激光器、信号发生器、强度调制器、分光束器、一对谐振器、光强度信号转换装置和位相解调器;所述激光器产生的激光根据信号发生器的信号经强度调制器强度调制后,再经分光束器产生一对光学边带信号,分别进入一对谐振器,所述谐振器的反射光经光强度信号转换装置转换成强度信号,再由位相解调器解调。 |
地址 |
214135 江苏省无锡市新区大学科技园清源路立业楼C区 |