发明名称 |
电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法 |
摘要 |
本发明为电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统及方法。系统由标准测试环境、信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台、驱动电机、驱动电机控制器、控制计算机、信号源、频谱分析仪组成,其方法是通过分析高速运动状态下的待测电子标签产品在不同测试频带内的响应特性,得到运动状态待测电子标签能够正常响应读写器信号的频域范围。通过转盘切线方向瞬时速度来模拟直线方向速度实现待测电子标签的高速运动,模拟读写器读待测电子标签信号实现对运动状态标签频率响应性能基准测试,可以为使用者提供一种简单、明确、有效的RFID自动化测试工具和基准测试方法。 |
申请公布号 |
CN101980252B |
申请公布日期 |
2012.12.12 |
申请号 |
CN201010287637.5 |
申请日期 |
2010.09.19 |
申请人 |
中国科学院自动化研究所 |
发明人 |
谭杰;朱智源;赵红胜;柳振 |
分类号 |
G06K17/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06K17/00(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
梁爱荣 |
主权项 |
一种电子标签在高速运动状态的响应频率基准测试系统,其特征在于:包括标准测试环境、信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台、驱动电机、驱动电机控制器、控制计算机、信号源、频谱分析仪,其中:信号源发射天线、信号源天线支架、频谱分析仪接收天线、防护罩、转盘、待测电子标签、支撑台和驱动电机置于标准测试环境的内部;驱动电机控制器、控制计算机、信号源和频谱分析仪置于标准测试环境的外部;所述信号源是能够以预设频率和预设功率输出模拟RFID读写器读待测电子标签信号的仪器,并且该预设频率和预设功率通过控制计算机远程调整;信号源发射天线置于信号源天线支架上,频谱分析仪接收天线置于防护罩上,待测电子标签安装于转盘上,频谱分析仪接收天线放置于信号源发射天线的辐射面几何中心和待测电子标签天线的辐射面几何中心的连线的中心位置,转盘固定在驱动电机上,防护罩套在转盘和待测电子标签外部,防护罩和驱动电机都置于支撑台上;信号源发射天线与信号源、频谱分析仪接收天线与频谱分析仪之间分别通过射频馈线相连,控制计算机通过数据线与信号源、频谱分析仪和驱动电机控制器分别相连,控制计算机向驱动电机控制器发送转速控制指令使待测电子标签以设定的速度运动,控制计算机向信号源发送控制指令,使信号源发射天线输出发射功率和频率可控的读写器读待测电子标签信号,频谱分析仪通过频谱分析仪接收天线捕获标准测试环境中的电磁信号,分析电磁信号中是否包含待测电子标签对读写器读待测电子标签信号的正确响应,如果发现正确响应的待测电子标签信号则将待测电子标签信号的反向散射强度发送至控制计算机端记录,统计后控制计算机再次发送控制指令至信号源,调整发射功率和频率后开始下一次测试;如果待测电子标签运动速度进行了调整,在控制计算机上设定运动速度开始下一次测试。 |
地址 |
100080 北京市海淀区中关村东路95号 |