| 摘要 |
Установка для испытаний на совместное воздействие радиации и одиночных импульсных сигналов напряжения может быть использована при проведении испытаний полупроводниковых приборов и интегральных схем, содержащая лазерный излучатель (ЛИ) и модулятор лазерного излучения (М), причем модулятор снабжен устройством запуска, а его сигнальный выход соединен с управляющим входом лазерного излучателя (ЛИ); светофильтр (СФ); выравниватель амплитудного распределения лазерного излучения (АВИ); блок контроля интенсивности лазерного излучения (БКЛИ) с выводом контрольного сигнала на вход блока запоминания параметров сигнала (УЗИ), имеющего также входы для соединения с выходом модулятора лазерного излучения (М), входы и выходы для соединения с соответствующими входами и выходами контролера связи (КС), выход для соединения с блоком согласования и коммутации (БСК), имеющим вход для подачи напряжения электропитания исследуемого объекта от источника электропитания (ИЭ), один выход сигнала состояния испытываемого объекта на электроизмерительный прибор (ЭП), а также один вход буферированного сигнала состояния испытываемого объекта (ПИО) с контактной панелью и числом контактов не менее числа выводов испытываемого объекта; управляющее вычислительное устройство (УВУ), имеющее встроенное программное обеспечение, входы и выходы сигналов управления и информации, соединенные с соответствующими входами и выходами контроллера связи (КС); кроме того, перед апертурой лазерного излучателя последовательно и соосно установлены (СФ), (АВИ), а также либо контактная панель ПИО, на которой закреплен испытываемый объект, выводы которого соеди� |
