发明名称 AMOLED inspection apparatus capable of adjusting angle
摘要 <p>본 발명은 AMOLED 원장 검사장치에 있어서, 원장 기판상에 형성되는 AMOLED 패널을 구비하는 검사 스테이지; 상기 검사 스테이지를 지지하며, 높이 조절이 가능하도록 높이 조절수단을 구비하는 베이스 프레임; 상기 베이스 프레임의 상단부로부터 수직방향으로 연장형성되어, 상기 검사 스테이지가 회전가능하도록 상기 검사 스테이지와 결합하는 한 쌍의 회전수단0); 및 상기 베이스 프레임의 상단부와 상기 검사 스테이지 하단부에 연결되어, 상기 검사 스테이지 회전시 그 각도를 선택적으로 틸팅시키는 각도 조절수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 각도 조절이 가능한 AMOLED 원장 검사장치를 제공한다.</p>
申请公布号 KR101209160(B1) 申请公布日期 2012.12.06
申请号 KR20110037458 申请日期 2011.04.21
申请人 发明人
分类号 G01R31/26;G01R31/02;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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