发明名称 一种磁记录磁性薄膜的制备方法
摘要 一种超高密度垂直磁记录磁性薄膜的制备方法,涉及磁记录、信息存储和再现信息记录等技术领域,在清洗后的单晶硅片的背面放置永磁体,当磁溅射室内的背底真空度为3×10-5~8×10-5Pa、氩气气压为0.7~0.9Pa时开始进行CoFePtC磁溅射,在单晶硅片的正面形成Co1-x-yFexPtCy沉积薄膜,然后将单晶硅片放入真空退火炉中进行热处理,形成厚度为300~800nm的薄膜。本发明添加掺杂原子Fe和间隙原子C,有效提高和控制了薄膜在垂直方向的磁晶各向异性,使薄膜具有垂直取向度高、矫顽力大和化学稳定性好等特点。
申请公布号 CN102810321A 申请公布日期 2012.12.05
申请号 CN201210308249.X 申请日期 2011.03.07
申请人 南通万宝实业有限公司 发明人 张朋越;周连明;泮敏翔
分类号 G11B5/84(2006.01)I;G11B5/851(2006.01)I 主分类号 G11B5/84(2006.01)I
代理机构 扬州市锦江专利事务所 32106 代理人 江平
主权项 一种超高密度垂直磁记录磁性薄膜的制备方法,其特征在于:在清洗后的单晶硅片的背面放置表面磁场强度为0.5~1T的永磁体,当磁溅射室内的背底真空度为3×10‑5~8×10‑5 Pa、氩气气压为0.7~0.9Pa时开始进行CoFePtC磁溅射,在单晶硅片的正面形成Co1‑x‑yFexPtCy沉积薄膜,然后将单晶硅片放入真空退火炉中进行热处理。
地址 226600 江苏省南通市海安镇黄海西大道88号