| 发明名称 | 采用横切面图像进行超声成像的系统和方法 | ||
| 摘要 | 本发明标题为：“采用横切面图像进行超声成像的系统和方法”。一种超声成像系统(100)，包括：适于扫描感兴趣容积的探头(105)，显示装置(118)，以及与该探头(105)和显示装置(118)电子通信的处理器(116)。该处理器(116)配置成在第一横切面图像上标识第一轮廓以及在第二横切面图像上标识第二轮廓。该处理器(116)配置成基于第一轮廓和第二轮廓中的至少一个自动配置采集参数；该处理器(116)配置成实施采集参数以采集数据，由数据生成图像，以及在显示装置(118)上显示图像。 | ||
| 申请公布号 | CN102805648A | 申请公布日期 | 2012.12.05 |
| 申请号 | CN201210215761.X | 申请日期 | 2012.05.10 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | C·F·佩里;A·肖瓦斯沃尔 |
| 分类号 | A61B8/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B8/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 柯广华;卢江 |
| 主权项 | 一种超声成像系统(100)，包括：适于扫描感兴趣容积的探头(105)；显示装置(118)；以及与所述探头(105)和所述显示装置(118)电子通信的处理器(116)，其中所述处理器(116)配置成：控制所述探头(105)以采集第一平面(602)的第一横切面图像(402)；控制所述探头(105)以采集第二平面(604)的第二横切面图像(404)；在所述第一横切面图像(402)上实施分段算法以标识结构的第一轮廓(406)；在所述第二横切面图像(404)上实施分段算法以标识所述结构的第二轮廓(410)；基于所述第一轮廓(406)和所述第二轮廓(410)中的至少一个来自动配置采集参数；实施所述采集参数以采集所述结构的数据；由所述数据生成图像；以及在所述显示装置(118)上显示所述图像。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||