发明名称 多资料通道快闪记忆体储存装置的缺陷处理方法
摘要 一多资料通道快闪记忆体储存装置包含多个第一区块群组以供储存资料。一种应用在该多资料通道快闪记忆体储存装置的缺陷处理方法,包括在侦测到该多个第一区块群组中具有缺陷区块时,将具有缺陷区块的第一区块群组切割为多个较小的子群组,每一个子群组中的区块全为缺陷区块或非缺陷区块,接着再从全为非缺陷区块的子群组中组合出与第一区块群组具有相同区块数量的第二区块群组。
申请公布号 TWI378460 申请公布日期 2012.12.01
申请号 TW097143691 申请日期 2008.11.12
申请人 擎泰科技股份有限公司 发明人 高毓懋;季永立;颜池男;熊福嘉
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人 黄重智 新竹市四维路130号13楼之7
主权项 一种多资料通道快闪记忆体储存装置的缺陷处理方法,该快闪记忆体储存装置包含多个第一区块群组以供写入资料,该处理方法包括下列步骤:侦测该多个第一区块群组是否具有缺陷区块;将具有缺陷区块的第一区块群组切割为多个子群组,侦测各子群组并对于具有缺陷区块子群组再切割为多个子群组,并且重复该侦测及切割步骤直到每一个子群组中的区块全为缺陷区块或非缺陷区块;以及从不具有缺陷区块的子群组中组合出与第一区块群组具有相同区块数量的第二区块群组;其中,被切割的该第一区块群组的数量大于该第二区块群组的数量。如请求项1之缺陷处理方法,其中该将具有缺陷区块的第一区块群组切割为多个子群组的步骤包括:(a)对半切割具有缺陷区块的第一区块群组;(b)侦测切割后的子群组中是否具有缺陷区块;(c)对半切割具有缺陷区块的子群组;以及(d)重覆步骤(b)及(c)直至所有子群组中的区块全为缺陷区块或非缺陷区块。如请求项1之缺陷处理方法,更包括侦测缺陷区块的位置以决定切割的方式。如请求项1之缺陷处理方法,其中该从不具有缺陷区块的子群组中组合出与第一区块群组具有相同区块数量的第二区块群组的步骤包括优先选取区块数量多的子群组来组合。如请求项4之缺陷处理方法,其中该从不具有缺陷区块的子群组中组合出与第一区块群组具有相同区块数量的第二区块群组的步骤包括当有多个子群组具有相同区块数量时,优先选取与已被选取的子群组具有相同物理区块编号的子群组。
地址 新竹市东区新竹科学工业园区笃行一路6号5楼