测试装置以及电子元件

摘要

提供一种测试装置，对被测试元件进行测试，该被测试元件具备在元件内部的内部电路与元件外部之间进行信号传输的外部介面电路。本发明的测试装置包括图案产生部、介面控制部及介面判定部。图案产生部将用以测试外部介面电路的测试图案输入至外部介面电路。介面控制部使外部介面电路返回输出测试图案。介面判定部根据外部介面电路返回输出的测试图案来判定外部介面电路的良否。

主权项

一种测试装置，经由输入输出接脚连接至被测试元件，且经由上述输入输出接脚对上述被测试元件进行测试，上述被测试元件位在上述测试装置的外部且具有在上述被测试元件内部的内部电路与上述被测试元件外部之间进行信号传输的外部介面电路，上述测试装置包括：图案产生部，将用以测试上述外部介面电路的测试图案输入至上述外部介面电路；介面控制部，使上述外部介面电路返回输出上述测试图案；以及介面判定部，根据上述外部介面电路返回输出的上述测试图案，来判定上述外部介面电路的良否。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中上述外部介面电路具有多个输入输出接脚，在对上述外部介面电路进行测试时，上述介面控制部使从上述图案产生部输入上述测试图案的上述输入输出接脚与欲将上述测试图案返回输出的上述输入输出接脚在上述被测试元件的内部相连接。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中上述被测试元件更包括对上述内部电路进行测试的内置自测电路，上述测试装置更包括：内置自测测试部，其控制上述内置自测电路，并对上述内部电路进行测试；以及结果处理部，在未检测出上述内部电路及上述外部介面电路中的任一者为不良时，判定上述被测试元件为良品。如申请专利范围第3项所述之测试装置，其中上述内置自测测试部是与上述外部介面电路的测试同时进行上述内部电路的测试。如申请专利范围第4项所述之测试装置，其中在对上述外部介面电路进行测试时，上述介面控制部使在上述外部介面电路与上述内部电路之间传输信号的连接路径分开。如申请专利范围第1项所述之测试装置，更包括：电源供给部，与上述内部电路的测试同时向上述内部电路供给电源电力；电力测定部，测定从上述电源供给部供给至上述被测试元件的上述电源电力；以及电源判定部，根据上述电力测定部所测定的上述电源电力，来判定上述被测试元件的良否。如申请专利范围第1项所述之测试装置，其中上述图案产生部生成伪随机图案，并将上述伪随机图案作为上述测试图案，上述介面判定部判定上述图案产生部已输出的上述伪随机图案与上述外部介面电路返回输出的逻辑值图案是否一致。如申请专利范围第2项所述之测试装置，其中上述外部介面电路具有多个缓冲记忆体，上述多个缓冲记忆体与上述多个输入输出接脚一对一地对应设置，并储存从外部输入至对应的上述输入输出接脚的资料，在对上述外部介面电路进行测试时，上述介面控制部使输入上述测试图案的上述输入输出接脚所对应的上述缓冲记忆体中储存的资料，经由欲返回输出上述测试图案的上述输入输出接脚而输出。如申请专利范围第2项所述之测试装置，其中上述外部介面电路更包括切换部，对将各个上述输入输出接脚连接于上述内部电路或者其他上述输入输出接脚的任一者进行切换，上述介面控制部将切换控制信号输入至上述切换部，上述切换控制信号是在对上述外部介面电路进行测试时，使从上述图案产生部输入上述测试图案的上述输入输出接脚与欲返回输出上述测试图案的上述输入输出接脚相连接。一种电子元件，包括：内部电路；外部介面电路，其具有多个输入输出接脚，并在上述电子元件外部及上述内部电路之间进行信号传输；内部介面电路，其被提供以耦接在上述内部电路与上述外部介面电路之间；以及切换部，对将各个上述输入输出接脚连接于上述内部电路或者其他上述输入输出接脚的任一者进行切换，其中在从外部的测试装置接到欲对上述外部介面电路进行测试的通知时，上述切换部经由不包括上述内部介面电路且不包括上述内部电路的路径，使从上述测试装置欲接收测试图案的上述输入输出接脚中的输入输出接脚与将上述测试图案欲返回输出至上述测试装置的上述输入输出接脚中的输入输出接脚在上述外部介面电路中相连接。如申请专利范围第10项所述之电子元件，更包括对上述内部电路进行测试的内置自测电路，在对上述内部电路以及上述外部介面电路同时进行测试时，上述切换部使上述外部介面电路与上述内部电路分开。如申请专利范围第10项所述之电子元件，其中上述内部电路具有记忆所输入的资料的记忆体单元。