发明名称 Ⅲ族氮化物结晶基板及其制造方法及Ⅲ族氮化物半导体装置
摘要 本发明之III族氮化物结晶基板之制造方法,其特征在于:包含于反应容器(51)内导入含硷金属元素物(1)、含III族元素物(2)与含氮元素物(3)之步骤;于反应容器(51)内形成至少含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)之步骤;及自熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;于反应容器(51)内至少导入含硷金属元素物(1)之步骤中,于将水分浓度控制为1.0 ppm以下之乾燥容器(100)内处理含硷金属元素物(1)。藉此,可提供一种光吸收系数较小之III族氮化物结晶基板及其制造方法及III族氮化物半导体装置。
申请公布号 TWI378161 申请公布日期 2012.12.01
申请号 TW094110876 申请日期 2005.04.06
申请人 住友电气工业股份有限公司 日本;森勇介 日本 发明人 佐佐木孝友;森勇介;吉村政志;川村史朗;弘田龙;中田成二
分类号 C30B9/12 主分类号 C30B9/12
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种III族氮化物结晶基板之制造方法,其特征在于:自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长,且包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)与含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤;于上述反应容器内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤;及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;于上述反应容器(51)内至少导入上述含硷金属元素物(1)之步骤中,于水分浓度控制为0.54 ppm以下之乾燥容器(100)内处理上述含硷金属元素物(1)。如请求项1之III族氮化物结晶基板之制造方法,其中于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)、上述含III族元素物(2)与上述含氮元素物(3)之步骤包含:于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)与上述含III族元素物(2)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素以及上述III族元素之III族-硷金属熔融液(4)之步骤;及于上述III族-硷金属熔融液(4)中导入上述氮含有物(3)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤包含使含氮元素物(3)溶解于上述III族-硷金属熔融液(4)之步骤。如请求项1之III族氮化物结晶基板之制造方法,其中自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,进而包含于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)、上述含III族元素物(2)以及上述含氮元素物(3)之至少任一种之步骤。一种III族氮化物结晶基板之制造方法,其特征在于:自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长,且包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)以及含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤;及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;自上述熔融液(5)使上述III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,将上述III族氮化物结晶(6)之生长温度设为880℃以上。如请求项4之III族氮化物结晶基板之制造方法,其中于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)、上述含III族元素物(2)与上述含氮元素物(3)之步骤包含:于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)与上述含III族元素物(2)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素以及上述III族元素之III族-硷金属熔融液(4)的步骤;及于上述III族-硷金属熔融液(4)中导入上述氮含有物(5)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素(1)、上述III族元素(2)以及上述氮元素(3)之熔融液(5)的步骤包含使含氮元素物(3)溶解于上述III族-硷金属熔融液(4)之步骤。如请求项4之III族氮化物结晶基板之制造方法,其中自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,进而包含于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)、上述含III族元素物(2)以及上述含氮元素物(3)之至少任一种之步骤。一种III族氮化物结晶基板之制造方法,其特征在于:自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长,且包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)以及含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤;及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;于上述反应容器(51)内至少导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物之步骤中,于将水分浓度控制为0.54 ppm以下之乾燥容器(100)内处理上述含硷金属元素物(1),同时自上述熔融液(5)使上述III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,将上述III族氮化物结晶(6)之生长温度设为850℃以上。如请求项7之III族氮化物结晶基板之制造方法,其中于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)、上述含III族元素物(2)与上述含氮元素物(3)之步骤包含:于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)与上述含III族元素物(2)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素以及上述III族元素之III族-硷金属熔融液(4)的步骤;及上述III族-硷金属熔融液(4)中导入上述氮元素物(3)之步骤;于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)的步骤包含使含氮元素物(3)溶解于上述III族-硷金属熔融液(4)之步骤。如请求项7之III族氮化物结晶基板之制造方法,其中自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,进而包含于上述反应容器(51)内导入上述含硷金属元素物(1)、上述含III族元素物(2)以及上述含氮元素物(3)之至少任一种之步骤。一种III族氮化物结晶基板,其系由III族氮化物结晶基板之制造方法所制造,且于400 nm~600 nm波长区域之光吸收系数为40 cm-1以下者;上述III族氮化物结晶基板之制造方法之特征在于:于自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之III族氮化物结晶基板之制造方法中,包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)与含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤,于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤,以及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;于上述反应容器(51)内至少导入上述含硷金属元素物(1)之步骤中,于将水分浓度控制为0.54 ppm以下之乾燥容器(100)内处理上述含硷金属元素物(1)。一种III族氮化物半导体装置,其于请求项10之III族氮化物结晶基板上形成有至少一层III族氮化物结晶层。一种III族氮化物结晶基板,其系由III族氮化物结晶基板之制造方法所制造,且氧浓度为1×1017个/cm3以下者;上述III族氮化物结晶基板之制造方法之特征在于:于自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之III族氮化物结晶基板之制造方法中,包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)与含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤,于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤,以及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;于上述反应容器(51)内至少导入上述含硷金属元素物之步骤中,于将水分浓度控制为0.54 ppm以下之乾燥容器(100)内处理上述含硷金属元素物(1)。一种III族氮化物半导体装置,其于请求项12之III族氮化物结晶基板上形成有至少一层III族氮化物结晶层。一种III族氮化物结晶基板,其系由III族氮化物结晶基板之制造方法所制造,且于400 nm~600 nm波长区域之光吸收系数为40 cm-1以下者;上述III族氮化物结晶基板之制造方法之特征在于:于自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之III族氮化物结晶基板之制造方法中,包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)与含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤,于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤,以及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;自上述熔融液(5)使上述III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,将上述III族氮化物结晶(6)之生长温度设为880℃以上。一种III族氮化物半导体装置,其于请求项14之III族氮化物结晶基板上形成有至少一层III族氮化物结晶层。一种III族氮化物结晶基板,其系由III族氮化物结晶基板之制造方法所制造,且氧浓度为1×1017个/cm3以下者;上述III族氮化物结晶基板之制造方法之特征在于:于自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之III族氮化物结晶基板之制造方法中,包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)与含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤,于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤,以及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;自上述熔融液(5)使上述III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,将上述III族氮化物结晶(6)之生长温度设为880℃以上。一种III族氮化物半导体装置,其于请求项16之III族氮化物结晶基板上形成有至少一层III族氮化物结晶层。一种III族氮化物结晶基板,其系由III族氮化物结晶基板之制造方法所制造,且氧浓度为1×1017个/cm3以下,且于400 nm~600 nm波长区域之光吸收系数为40 cm-1以下者;上述III族氮化物结晶基板之制造方法之特征在于:于自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之III族氮化物结晶基板之制造方法中,包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)与含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤,于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤,以及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;于上述反应容器(51)内至少导入上述含硷金属元素物(1)之步骤中,于将水分浓度控制为0.54 ppm以下之乾燥容器(100)内处理上述含硷金属元素物(1)。一种III族氮化物结晶基板,其系由III族氮化物结晶基板之制造方法所制造,且氧浓度为1×1017个/cm3以下,且于400 nm~600 nm波长区域之光吸收系数为40 cm-1以下者;上述III族氮化物结晶基板之制造方法之特征在于:于自含有硷金属元素、III族元素以及氮元素之熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之III族氮化物结晶基板之制造方法中,包含:于反应容器(51)内导入含有上述硷金属元素之含硷金属元素物(1)、含有上述III族元素之含III族元素物(2)与含有上述氮元素之含氮元素物(3)之步骤,于上述反应容器(51)内形成至少含有上述硷金属元素、上述III族元素以及上述氮元素之熔融液(5)之步骤,以及自上述熔融液(5)使III族氮化物结晶(6)生长之步骤;自上述熔融液(5)使上述III族氮化物结晶(6)生长之步骤中,将上述III族氮化物结晶(6)之生长温度设为880℃以上。一种III族氮化物半导体装置,其于请求项18或19之III族氮化物结晶基板上形成有至少一层III族氮化物结晶层。
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