高电压测试装置

摘要

一种高电压测试装置，包括一底座、一测试基座、一固定单元以及一测试单元，其中测试基座、固定单元以及测试单元皆设置于底座上。测试基座具有一容置口以及一测试探针，其中测试探针位于容置口内，而固定单元及测试单元位于测试基座的相对侧，且测试单元包括一第一固定壁、一第一驱动元件以及一弧形探针。第一固定壁设置于底座上，而第一驱动元件可动地设置于第一固定壁上以相对靠近或远离底座，且弧形探针连接第一驱动元件，并受第一驱动元件驱动而伸出或缩回。

主权项

一种高电压测试装置，包括：一底座；一测试基座，设置于该底座上，具有一容置口以及一测试探针，其中该测试探针位于该容置口内；一固定单元，设置于该底座上；一测试单元，设置于该底座上，并与该固定单元位于该测试基座的相对侧，该测试单元包括：一第一固定壁，设置于该底座上；一第一驱动元件，可动地设置于该第一固定壁上以相对靠近或远离该底座；以及一弧形探针，连接该第一驱动元件，并受该第一驱动元件驱动而伸出或缩回。如申请专利范围第1项所述之高电压测试装置，其中该测试探针为电路端点、针形探针或弧形探针。如申请专利范围第1项所述之高电压测试装置，其中该固定单元包括：一第二固定壁，设置于该底座上，且该第一固定壁与该第二固定壁的法线方向互相平行；一第二驱动元件，可动地设置于该第二固定壁上以相对靠近或远离该底座；以及一固定元件，连接该第二驱动元件，并受该第二驱动元件驱动而伸出或缩回。如申请专利范围第3项所述之高电压测试装置，其中该第二驱动元件为汽缸。如申请专利范围第3项所述之高电压测试装置，其中该固定元件的形状与该弧形探针形状相同。如申请专利范围第1项所述之高电压测试装置，其中该第一驱动元件为汽缸。如申请专利范围第1项所述之高电压测试装置，更包括一缓冲单元，设置于该弧形探针与该第一驱动元件之间，该缓冲单元包括：一第一固定块，固定于该第一驱动元件；一第二固定块，该弧形探针固定于该第二固定块，且该弧形探针朝向该固定单元设置；以及至少一弹簧，连接于该第一固定块及该第二固定块之间。如申请专利范围第1项所述之高电压测试装置，更包括一处理单元，设置于该底座内，且该处理单元与该固定单元及该测试单元电连接。如申请专利范围第8项所述之高电压测试装置，更包括一控制/输出介面，与该处理单元电连接。如申请专利范围第9项所述之高电压测试装置，其中该控制/输出介面为电脑。如申请专利范围第9项所述之高电压测试装置，更包括多条电线，且该些电线的其中之一连接于该测试探针及该处理单元之间，该些电线的其中另一连接于该弧形探针及该处理单元之间，该些电线的其中又一连接于该控制/输出介面与该处理单元之间。