| 发明名称 | 电容值测量电路与方法 | ||
| 摘要 | 本发明是一种电容值测量电路与方法，该电容值测量电路包括：一储存电容；一开关电路，耦接至该储存电容、一参考电压与一电压源；一电压检测器，耦接至该储存电容，检测该储存电容的一电压；一开关控制器，耦接至该电压检测器与该开关电路，该开关控制器控制该开关电路；以及一电流源，耦接至该开关电路。该电容值测量方法包括：预充电一储存电容；对该待测电容与该储存电容进行一电荷转移；根据该储存电容的一电压与一参考电压间的关系，将该储存电容放电及充电；以及根据该储存电容的该电压，测量该待测电容的该电容值。 | ||
| 申请公布号 | CN101943716B | 申请公布日期 | 2012.11.28 |
| 申请号 | CN200910152134.4 | 申请日期 | 2009.07.09 |
| 申请人 | 联咏科技股份有限公司 | 发明人 | 黄赫炜;张志远;张辉宏 |
| 分类号 | H03K17/96(2006.01)I;G01R27/26(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I | 主分类号 | H03K17/96(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 任永武 |
| 主权项 | 一种电容值测量方法，用于测量一待测电容的一电容值，包括：预充电一储存电容；对该待测电容与该储存电容进行一电荷转移，其间根据该储存电容的一电压与一参考电压间的关系，将该储存电容放电及充电；以及根据该储存电容的该电压，测量该待测电容的该电容值；其中，该储存电容透过一电流源进行放电。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹科学园区创新一路1-2号 | ||