发明名称 一种基于保留时间锁定-气相色谱-四极杆质谱选择性离子扫描的化学轮廓分析方法
摘要 本发明公开了一种保留时间锁定-气相色谱-四极杆质谱-选择性离子扫描进行化学轮廓分析的方法,首先采用气相色谱-质谱全扫描方法分析质量控制样品,采用质谱自动去卷积和峰识别系统对获得的全扫描信息进行质谱去卷积和峰识别,从AMDIS的结果文件中提取识别的化合物所对应的色谱保留时间信息,并根据该信息对不同保留时间的色谱峰进行分组;然后从原始数据文件中提取质谱信息,进行特征离子选定。建立保留时间锁定的GC-MS方法并对待分析的所有样品在该方法下进行选择离子检测。本发明使得采用气相色谱-质谱得到的化学轮廓分析数据的可靠性、有效性和可操作性得到提高。本方法也可推广到以液相色谱-质谱为基础的化学轮廓分析。
申请公布号 CN102798684A 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN201110133061.1 申请日期 2011.05.21
申请人 中国科学院大连化学物理研究所;大连理工大学 发明人 许国旺;李勇;阮强;路鑫;林晓惠
分类号 G01N30/72(2006.01)I 主分类号 G01N30/72(2006.01)I
代理机构 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人 马驰
主权项 一种基于保留时间锁定‑气相色谱‑四极杆质谱选择性离子扫描进行化学轮廓分析的方法,其特征在于:首先制作质量控制(QC)样本,并采集QC样本的气相色谱‑质谱全扫描数据,采用质谱自动去卷积和峰识别系统(AMIDS,Automated MassSpectral Deconvolution and Identification System)对质量控制(QC)样本的气相色谱‑质谱全扫描色谱图进行峰识别;然后对所识别的色谱峰(化合物)进行特征离子(定量离子)选定和表征;最后依据选定的分组和其对应的组内特征离子对待分析的所有样品进行保留时间锁定的选择离子扫描,并使用该方法进行实际样品的化学轮廓分析。
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