非易失存储器的测试校验方法和系统

摘要

本发明提供了一种非易失存储器的测试校验方法，包括：步骤101，对所有存储单元同时进行校验；步骤102，将所有的校验结果存入寄存模块内；步骤103，从寄存模块内逐一取出校验结果，对存储单元进行校验结果是否全部通过的判断，若通过，则结束测试校验操作，反之，则对未通过校验的存储单元进行相应的处理，并在对所有未通过校验的存储单元都进行相应的处理后，返回步骤101。本发明还提供了一种实现前述测试校验方法的非易失存储器的测试校验系统。本发明的一种非易失存储器的测试校验方法和校验系统，能够快速的对存储单元进行校验检测，节省校验检测的时间，提高测试的效率。

主权项

一种非易失存储器的测试校验方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤101，对所有存储单元同时进行校验；步骤102，将所有的校验结果存入寄存模块内；步骤103，从寄存模块内逐一取出校验结果，对存储单元进行校验结果是否全部通过的判断，若通过，则结束测试校验操作，反之，则对未通过校验的存储单元进行相应的处理，并在对所有未通过校验的存储单元都进行相应的处理后，返回步骤101。