发明名称 制备高宽深比结构的等离子蚀刻方法及等离子蚀刻装置
摘要 本发明公开了一种制备高宽深比结构的等离子蚀刻方法及装置。该方法包括以下步骤:置放基板于等离子蚀刻装置内,其中该等离子蚀刻装置包括一上电极板及一下电极板;持续提供一上源射频电力及一直流电力至该上电极板;以及间断地提供一偏压射频电力至该下电极板。当该偏压射频电力被切换至关状态时,大量二次电子会通过主体等离子且到达该基板而与正离子中和。
申请公布号 CN102800551A 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN201110266496.3 申请日期 2011.09.09
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 吴常明;陈逸男;刘献文
分类号 H01J37/32(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01J37/32(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 张龙哺;冯志云
主权项 一种制备高宽深比结构的等离子蚀刻方法,其特征在于,包括以下步骤:形成一光罩于一基板上,其中该光罩具有一图案;置放该基板及光罩于一等离子蚀刻装置内,其中该等离子蚀刻装置包括一处理室、一上电极板及一下电极板,该上电极板及该下电极板位于该处理室内,且该下电极板包括一夹具,用以夹持该基板;导入一处理气体至该处理室中;在等离子蚀刻工艺中,持续提供一上源射频电力及一直流电力至该上电极板;以及提供一偏压射频电力至该下电极板,以在该处理室内产生等离子而得以根据该光罩的图案蚀刻该基板,其中,在等离子蚀刻工艺中,该偏压射频电力间断地提供。
地址 中国台湾桃园县