发明名称 一种位移和速度测量方法
摘要 本发明提供了一种位移和速度测量方法,其特征在于:首先在被测物体的测量段内做测量标识;然后调整被测试物体上的测量标识在线阵相机的扫描范围内;被测物体开始运动或者变形时,线阵相机以设定频率拍摄图像;与线阵相机相连的图像采集卡采集拍摄的图像上的测量标识,并通过图像数字化处理软件转换为数字信号,输入计算机进行处理,输出位移和速度值。本发明提供的方法克服了现有技术的不足,通过使用帧速率高的线阵相机,可以高精度、超高速地进行多点位移和速度的测量,满足高速运动的被测物体以及需要高精度测试位移、速度的场合的测量要求。
申请公布号 CN102798347A 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN201210310704.X 申请日期 2012.08.28
申请人 上海金玺实验室有限公司 发明人 陈广强;杜砚文;张淋图;郭德凡
分类号 G01B11/04(2006.01)I;G01P3/68(2006.01)I;G01C23/00(2006.01)I 主分类号 G01B11/04(2006.01)I
代理机构 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人 翁若莹
主权项 一种位移和速度测量方法,其特征在于:该方法由以下3个步骤组成:步骤1:在被测物体(1)的测量段内,以被测物体(1)本身的特征作为测量标识,或者根据测量需要,在被测物体(1)上做测量标识;步骤2:将被测物体(1)放在线阵相机(2)的镜头(3)的前方,线阵相机(2)的扫描方向平行于测量方向,并调整被测试物体(1)上的测量标识在线阵相机(2)的扫描范围内;步骤3:被测物体(1)开始运动或者变形,线阵相机(2)以设定频率拍摄图像;与线阵相机(2)相连的图像采集卡(4)采集拍摄的图像上的测量标识,并通过图像数字化处理软件转换为数字信号,输入计算机(5)进行处理,再结合每幅图像的拍摄时间,输出每个测量标识的一维位移、不同测量标识之间的一维相对位移,以及每个测量标识的速度和不同测量标识之间的相对速度。
地址 201714 上海市青浦区华纺路99弄99号