| 发明名称 | X光源点与成像平面相对位置测量器 | ||
| 摘要 | 一种X光源点与成像平面相对位置测量器，包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。采用本实用新型的X光源点与成像平面相对位置测量器对C形臂X光锥进行测定，根据测定结果再配合计算即可得出在不同C形臂姿态下其X光源点与成像平面之间的相对位置关系。 | ||
| 申请公布号 | CN202553960U | 申请公布日期 | 2012.11.28 |
| 申请号 | CN201220174615.2 | 申请日期 | 2012.04.23 |
| 申请人 | 上海理工大学 | 发明人 | 周鹏程;胡方遒;闫士举 |
| 分类号 | A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人 | 杨元焱 |
| 主权项 | 一种X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。 | ||
| 地址 | 200093 上海市杨浦区军工路516号 | ||